เพิ่มศักยภาพการรองรับการทดลองแบบ In-situ และหลายชุดข้อมูล
ลอนดอน, 9 เมษายน 2569 /PRNewswire/ — Oxford Instruments ได้ประกาศเปิดตัว AZtecCrystal 4.0 ซึ่งเป็นเวอร์ชันล่าสุดของซอฟต์แวร์สำหรับการวิเคราะห์ข้อมูล Electron Backscatter Diffraction (EBSD) ของบริษัท
เวอร์ชันใหม่นี้ได้นำเสนอฟีเจอร์ Crystal Batch และ Crystal Compare ซึ่งช่วยให้ผู้ใช้สามารถเชื่อมโยงข้อมูล EBSD กับพารามิเตอร์การทดลองภายนอก และทำการวิเคราะห์และแสดงผลข้อมูลจากหลายชุดข้อมูลภายในเวิร์กโฟลว์เดียวกันได้อย่างเป็นบูรณาการ
Crystal Batch ช่วยให้ผู้ใช้สามารถเชื่อมต่อพารามิเตอร์ภายนอกเข้ากับชุดข้อมูลหลายชุด ทำให้สามารถวิเคราะห์และจัดทำรายงานค่าชี้วัดสำคัญที่ครอบคลุมทั้งชุดข้อมูลทั้งหมดได้ ความสามารถนี้มีประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับการวิเคราะห์หลายตัวอย่างและหลายตำแหน่ง การทดลองด้วยการเฉือนตัวอย่างเป็นชั้นแบบ 3 มิติโดยใช้ FIB (Focused Ion Beam) รวมถึงการทดลองแบบ in-situ เช่น การติดตามขนาดเกรน (grain size) หรือการเปลี่ยนแปลงเฟสระหว่างกระบวนการอบชุบความร้อน
Crystal Compare เป็นเครื่องมือแสดงผลข้อมูลที่ใช้งานง่าย เพื่อใช้ในการเปรียบเทียบการเปลี่ยนแปลงระหว่างชุดข้อมูล ผู้ใช้งานสามารถสลับการทำงานระหว่างการวิเคราะห์และการรายงานได้อย่างราบรื่น รวมทั้งยังสามารถเปรียบเทียบชุดข้อมูล ติดตามการเปลี่ยนแปลงตามเวลา และสร้างภาพแบบ time-lapse ได้อย่างง่ายดาย
AZtecCrystal 4.0 เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการใช้งานในห้องปฏิบัติการส่วนกลาง งานวิจัยวัสดุเชิงโครงสร้าง ไปจนถึงงานควบคุมคุณภาพและการวิเคราะห์ความเสียหาย ซึ่งต้องการความรวดเร็วในการประมวลผลข้อมูล ความสามารถในการทำซ้ำผลลัพธ์ได้สูง และการรายงานผลที่ครอบคลุมครบถ้วน
Mark Coleman ผู้จัดการผลิตภัณฑ์ AZtecCrystal ของ Oxford Instruments กล่าวว่า:
"AZtecCrystal 4.0 ช่วยลดการจัดการข้อมูลแบบแมนนวลผ่านการบูรณาการและระบบอัตโนมัติ ทำให้นักวิจัยสามารถมุ่งความสำคัญไปที่การตีความการเปลี่ยนแปลงของโครงสร้างระดับจุลภาคได้อย่างเต็มที่ เรามุ่งมั่นอย่างต่อเนื่องในการนำเสนอโซลูชันที่เป็นนวัตกรรม เพื่อช่วยให้นักวิทยาศาสตร์ได้รับข้อมูลเชิงลึกอย่างรวดเร็วขึ้นและมีความแม่นยำสูงยิ่งขึ้น"
สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม หรือเพื่อนัดหมายพบผู้เชี่ยวชาญในพื้นที่เพื่อดำเนินการอัปเกรด กรุณาเยี่ยมชมเว็บไซต์ของ Oxford Instruments ที่ https://www.oxinst.com/regional-connect/azteccrystal-4-0/
จัดทำและเผยแพร่ในนามของ Oxford Instruments Imaging and Analysis
สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม โปรดเยี่ยมชม www.oxinst.com
